Spectromètre XRF WD-XRF Zetium

Conçu pour répondre au contrôle de processus et aux applications de recherche et développement les plus exigeantes, le spectromètre Zetium est le leader du marché en termes de conception de haute qualité et de caractéristiques innovantes pour l’analyse des niveaux inférieurs au ppm en pourcentage de Be à Am.

Le Zetium constitue une étape révolutionnaire dans l’analyse des matériaux. La plate-forme incarne la technologie SumXcore – une intégration de WDXRF, EDXRF et XRD. Cette combinaison unique de possibilités place Zetium dans une classe à part en terme de puissance analytique, de vitesse et de flexibilité des tâches dans de multiples environnements.

Une large gamme de modules logiciels supplémentaires est disponible pour des analyses spécifiques, tels que l’analyse non standardisée, l’analyse d’éléments traces en géologie, les corrections de matrice dans les huiles et l’analyse de couches minces.

Des éditions industrielles dédiées du spectromètre XRF Zetium sont proposées pour des industries spécifiques : le ciment, les minéraux, les métaux, les produits pétrochimiques et les polymères et les plastiques. La configuration de l’édition Ultimate répond aux besoins les plus exigeants quelle que soit l’industrie. La conception modulaire de la plate-forme Zetium permet d’améliorer les performances des tâches spécifiques grâce à divers packages.

• Amélioration des performances d’analyse
  • Choix de puissance de 1 à 2,4, 3 ou 4 kW pour une meilleure sensibilité
  • Gamme de matériaux d’anode de tube à rayons X Rh, Cr, Mo et Au pour des applications spécifiques
  • Détecteur Duplex pour une meilleure sensibilité et une plus large gamme dynamique pour les analyses des métaux de transition
  • Détecteur à scintillation HiPer pour une gamme dynamique améliorée pour les éléments lourds (jusqu’à 3,5 Mcps) idéal pour l’analyse haute précision du Nb et Mo dans les aciers
  • Analyse séquentielle chaux vive et XRF avec le THETA core

  Expérience utilisateur supérieure

  • Logiciel simple et intuitif avec le Virtual Analyst
  • Série complète de modules de configuration d’applications et solutions logicielles
  • Analyse XRF non standardisée leader de l’industrie avec Omnian – analyse de matériaux inconnus ou de matériaux pour lesquels des étalons ne sont pas disponibles
  • Analyse élémentaire multiéléments avec cartographie
  • Masques de collimateur programmables pour des tailles d’échantillon comprises entre 6 et 37 mm

  Rendement d’échantillons maximum

  • Technologie sumXcore – Durées de mesure réduites jusqu’à 50 % avec ED core
  • Choix de puissance de 1 à 2,4, 3 ou 4 kW pour des durées d’analyse plus rapides
  • Canaux Hi-Per pour une mesure simultanée des éléments légers
  • Un chargement continu et direct réduit considérablement le temps d’inactivité de l’instrument
  • Lit de passeur d’échantillons haute capacité (jusqu’à 209 positions) pour des applications à rendement élevé
  • Option de lecteur de code-barres pour le chargement d’échantillons et la saisie de données rapides et sans erreur

  Robustesse

  • Le dispositif anti-poussière minimise la contamination et optimise le temps en fonctionnement de l’instrument
  • Revêtement CHI-BLUE sur la fenêtre du tube à rayons X pour une meilleure solidité du tube et une plus grande résistance à la corrosion
  • Identification du type d’échantillon (solides et liquides)
  • Lecteur code-barres pour une saisie d’échantillons sans erreur

  Faible coût de propriété

  • Gain de place, conception compacte
  • Sas de petite taille, pour des mises sous vide rapides et faible consommation d’hélium pour l’analyse de liquides
  • Modules de service faciles d’accès pour un entretien plus rapide de l’instrument et des temps d’arrêt minimaux
  • Un refroidisseur dédié évacue la chaleur dans le laboratoire, évitant un climatiseur supplémentaire.
  • Solution en packages économiques