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Spectromètre XRF ED-XRF EPSILON 4
Malvern panalytical
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Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise
l'Epsilon 4 est un instrument multifonctionnel conçu pour tout secteur d'activité nécessitant une analyse élémentaire du fluor (F) à l'américium (Am) dans les domaines du contrôle de procédés et de la recherche et du développement. Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection à un logiciel éprouvé et une conception intelligente, les performances d'analyse de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol.
Caractéristiques
- Analyse non-destructive
- Convient aux solides, liquides et poudres
- Préparation d’échantillon simple, rapide et sans danger
- Données hautement reproductibles
L’Epsilon 4 est un spectromètre XRF portable et fiable, idéal pour l’analyse précise des éléments métalliques et non métalliques dans divers matériaux. Grâce à son système de détection par fluorescence des rayons X et à son détecteur SDD30, il offre une performance supérieure en termes de précision et d’efficacité. Cet analyseur permet de mesurer avec haute précision les échantillons dans des applications telles que la production de ciment, l’exploitation minière, les produits pharmaceutiques et l’environnement. Son logiciel d’analyse avancé optimise la détection et le contrôle qualité, tout en réduisant la consommation d’énergie par rapport aux systèmes traditionnels de paillasse.
- Haute sensibilité grâce à un trajet optique optimisé en terme d’excitation et de détection
- Leader en terme de performance sur les éléments légers
- Sécurité Rayons X assurée
- Complète traçabilité des données
- Service en ligne dans le monde entier
- Pétrochimie
- Plastiques et polymères
- Environnement
- Produits pharmaceutiques
- Mines & minéraux
