Spectromètre XRF ED-XRF EPSILON 4
Malvern panalytical
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Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise
l'Epsilon 4 est un instrument multifonctionnel conçu pour tout secteur d'activité nécessitant une analyse élémentaire du fluor (F) à l'américium (Am) dans les domaines du contrôle de procédés et de la recherche et du développement. Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection à un logiciel éprouvé et une conception intelligente, les performances d'analyse de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol.
Caractéristiques
- Analyse non-destructive
- Convient aux solides, liquides et poudres
- Préparation d’échantillon simple, rapide et sans danger
- Données hautement reproductibles
L’Epsilon 4 est une alternative fiable et robuste aux systèmes classiques d’une grande variété d’industries et d’applications. Ceci même lorsque l’analyse d’éléments légers est de la plus haute importance, notamment : la production de ciment, l’exploitation minière, l’enrichissement de minerais, le fer, l’acier et les métaux non ferreux, le criblage et la quantification selon la RoHS, le pétrole et les produits pétroliers, les polymères et les industries associées, la fabrication de verre, la médecine légale, les produits pharmaceutiques, les produits de santé, l’environnement, les denrées alimentaires et les produits cosmétiques.
En termes de méthodes, plusieurs variantes se présentent :
- Omnian pour l’analyse sans étalon
- FingerPrint pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d’analyse est importante
- Stratos pour une analyse rapide, simple et non destructive des revêtements, des couches superficielles et des structures multicouches
- Oil-Trace pour la quantification de mélanges de carburants-biocarburants et de lubrifiants neufs et usés
Les instruments Epsilon 4 associent la dernière technologie en matière d’excitation et de détection à un logiciel d’analyse de pointe. Le tube à rayons X de 15 watts permettant une excitation à intensité élevée (3 mA), associé au dernier détecteur SDD30 et à un trajet optique compact, offre des performances d’analyse de loin supérieures à celles des systèmes EDXRF de 50 watts, voire même des systèmes WDRXF de paillasse. Il permet également en parallèle de réduire la consommation d’énergie.
- Haute sensibilité grâce à un trajet optique optimisé en terme d’excitation et de détection
- Leader en terme de performance sur les éléments légers
- Sécurité Rayons X assurée
- Complète traçabilité des données
- Service en ligne dans le monde entier
- Pétrochimie
- Plastiques et polymères
- Environnement
- Produits pharmaceutiques
- Mines & minéraux