Spectromètre XRF ED-XRF EPSILON1
Malvern panalytical
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Compact et puissant
Le XRF Epsilon 1 est conçu par Malver-PANalytical, leader du marché de fluorescence X. La société offre une qualité éprouvée, un service à travers le monde ainsi qu'un support application. De nombreuses formations destinées à l'application ou l'expertise sont disponibles sur demande.
Caractéristiques
- Données précises et reproductibles comparées aux autres techniques
- Méthode de quantification rapide
- Préparation d’échantillon simple, rapide et sans danger
- Analyse non-destructive
L’Epsilon 1 est un analyseur de spectrométrie de fluorescence X à dispersion d’énergie entièrement intégré incluant le spectromètre, l’ordinateur, un écran tactile et le logiciel d’analyse. Optimisé par les dernières avancées en matière de technologie d’excitation et de détection, l’Epsilon 1 est l’un des produits les plus performants de la catégorie d’instruments de paillasse économiques.
L’Epsilon 1 est conçu pour la caractérisation et l’analyse de n’importe quel type d’échantillon dans de nombreux secteurs d’activité, tels que le ciment, les produits cosmétiques, l’environnement, l’agroalimentaire, la médecine légale, les métaux et les revêtements, l’exploitation minière et de minéraux, les nanomatériaux, les produits pétrochimiques et pharmaceutiques, les polymères et la RoHS-2.
Un certain nombre des solutions originales sont disponibles pour répondre à des besoins d’analyse spécifiques. Ces versions industrielles sont pré-calibrées en usine et prêtes à l’emploi : L’Epsilon 1 peut être calibré à l’aide de matériaux de référence qui correspondent à la composition des échantillons de routine.
L’Epsilon 1 est un instrument de spectrométrie de fluorescence X de paillasse haute performance conçu pour l’analyse d’éléments majeurs
Le tube à rayons X à anode argent et fenêtre fine, conçu et fabriqué par PANalytical, garantit une qualité et une sensibilité élevées. Le tube à rayons X (1mA, 10W) et le générateur de 50 kV sont idéaux pour des éléments plus lourds d’excitation, ce qui se traduit par des délais d’analyse plus courts et une précision supérieure.
Débit d’échantillon : entre 40 et 80 analyses par journée de 8h (en fonction des éléments et des teneurs)
- Analyse non destructiveLes mesures sont réalisées directement sur l’échantillon proprement dit avec peu ou pas de préparation d’échantillon. Dans la mesure où la spectrométrie de fluorescence X est une technique non destructive, l’échantillon peut également être mesuré ultérieurement par d’autres techniques d’analyse, si nécessaire.
- Sensibilité maximaleLe tube à rayons X à anode argent et fenêtre fine, conçu et fabriqué par Malvern Panalytical, garantit une qualité et une sensibilité élevées. Le tube à rayons X et le générateur de 50 kV sont idéaux pour des éléments plus lourds d’excitation, ce qui se traduit par des délais d’analyse plus courts et une précision supérieure.
- Communication facileConnexions USB et réseau pour l’utilisation de périphériques informatiques standard pour une utilisation prolongée, le développement d’applications et la position assise de l’opérateur.
- Variations atmosphériquesLes photons de rayons X à basse énergie caractéristiques du sodium, du magnésium, de l’aluminium, du silicium, du phosphore et du soufre sont sensibles aux variations de la pression atmosphérique et de la température. Les capteurs de température et de pression atmosphérique intégrés compensent ces variations atmosphériques, assurant ainsi d’excellents résultats par tous les temps.
- Polyéthylène
- Excipient pharmaceutique
- Recherches