Modulab XM MTS

Le ModuLab XM MTS offre en standard une solution de caractérisation DC (résolution de l’ordre de la microseconde  pour tests I-V, pulses, rampes…) et AC ( C-V, Mott-Schottky, impédance, permittivité, Tan Delta…).

Permettant une polarisation de base de 8V et de 100mA en mesure, des modules optionnels internes au châssis permettront d’atteindre 100V en polarisation (module MHV100), et/ou 2A  en mesure (module MBST 2A), mais aussi de doper la performance de mesure des petits courants (module MFA : FemtoA), ou encore de compenser automatiquement les imprécisions de mesure en rapport avec la connectique entre l’échantillon et l’analyseur ModuLab MTS XM (module MREF).

Ces options rendront l’instrument idéal pour des caractérisations de matériaux TRES conducteurs  (certains polymères et autres…)  et/ou TRES PEU conducteurs (comme les matériaux diélectriques, les céramiques et les isolants).

Liste non-exhaustive de matériaux testés par le ModuLab XM MTS :

• Potentiostat: EIS 1 MHz (via FRA), échantillonnage jusqu’à 1 MS/s, tensions max ±8 V (±100 V en option), courants max ±300 mA (±2 A en option), précisions (lecture% + gamme%) 0.1% +0.05%, Impédance d’entrée >100 GΩ, <28 pF 
• Optique: Spectre couvert 350 nm – 1100 nm, 6 décades d’intensité lumineuse (avec filtre ND), divergence max du faisceau 4° (diamètre max 1 cm), calibration NIST, courant max du LED Driver 10 A, fréquence max du LED Driver (IMPS and IMVS) 250 kHz

• dispositifs photovoltaïques en général et organiques en particulier
• cellules solaires (dont Perovskites et Dssc)
• Quantum dot
• OLED
• photo électrolyse de l’eau
• photo-batteries
• Toutes caractérisations électrochimiques en général